★ 微機電剛性探針測試卡 Probe-Card

         材料：剛性垂直探針
         最小探針間距：10um
         應用：Logic IC 錫鉛凸塊測試
               LCD Drive IC 金凸塊測試

★ 薄膜探針卡 Membrane

         特性: 針長只有30um，有效避免電性干擾，
               適用於高頻測試，例如通訊IC
               多層聚乙烯胺上，具備精密內層線路，
               並且將探針直接成長於C4 Pad上，
               一體成形，取代MLO+探針：10um

★ Thin Film MLO

         L-1/L-2：內導線RDL Line，D-2/D-1:導線層間連接金屬
         PI：聚乙烯胺薄膜
         C4：與探針接觸，傳導電訊號
         BGA：捍接到探針卡PCB